XSeeker 8000

Микрофокусная рентгеновская КТ-система

Настольная система рентгеновской компьютерной томографии (КТ) XSeeker 8000 оснащена высокомощным рентгеновским генератором и плоскопанельным детектором высокого разрешения. Несмотря на компактный размер, прибор имеет высокое выходное напряжение рентгеновского излучения (160 кВ), что позволяет проводить контроль с высокой четкостью изображения литых пластиковых и металлических (в частности, алюминиевых) деталей. Кроме того, новое программное обеспечение для прибора отличается высоким уровнем функциональности и обладает самой высокой на сегодняшний день пропускной способностью в своем классе. Благодаря сочетанию этих факторов прибор может применяться для решения широкого круга задач: от детального обследования при разработке продукции и оценке качества до проверок на производственных площадках.

Особенности

Компактная система высокой производительности

  • Самая маленькая и легкая настольная КТ-система в своем классе.

Благодаря своим компактным габаритам прибор можно установить практически в любой лаборатории или производственном помещении.

  • Высокое выходное напряжение 160 кВ обеспечивает высокую проникающую способность

Благодаря выходному напряжению рентгеновского излучения (160 кВ) система подходит для исследования толстых деталей (например, изделий из пластика высокой плотности или металла).

Материал Соотношение пропускной способности рентгеновского излучения моделей других производителей, представленных на рынке, к новой модели Shimadzu 100 кВ : 160 кВ
Пластик 1:1.2
Алюминий 1:1.4
Железо 1:2.0

Типичное изображение, полученное системами с выходным напряжением 100 кВ и 160 кВ (пропускание осуществлялось через алюминиевую пластину тол. 100 мм).

Качество изображения и функциональность на уровне моделей высочайшего класса

  • Высокоточное сканирование с максимальным входным разрешением 5,6 миллиона пикселей.

Технология смещенного сканирования, применяемая в модели XSeeker 8000, увеличивает площадь покрытия образца примерно вдвое по сравнению с обычным сканированием, что позволяет получить разрешение, эквивалентное 5,6 миллионам пикселей. Система обеспечивает высокоточное сканирование в широком поле обзора диаметром до 100 мм.

  • Плоскопанельный детектор с шагом пикселя 50 мкм

Система оснащена плоскопанельным детектором с мелкими элементами изображения размером примерно 50 мкм на пиксель. Это наименьший шаг пикселя среди всех приборов этого класса, что позволяет получать надежные наблюдения вплоть до уровня тонких структур.

  • Прибор в базовой версии оснащен высокофункциональным универсальным программным обеспечением для просмотра изображений

Система оснащена специализированным программным обеспечением для просмотра изображений с несколькими удобными для оператора функциями. Так, помимо MPR-дисплея для одновременного отображения нескольких поперечных сечений исследуемого объекта, программное обеспечение содержит VR-дисплей с изображением полноценной 3D-матрицы объекта, что позволяет проводить исследования на интуитивном уровне.

Функция измерения размеров возможна как на MPR-изображении, так и на VR-картинке. А полученные результаты КТ-наблюдения можно сразу преобразовать в данные сетки STL, что позволяет значительно расширить использование полученных результатов. Например, для использования в программе 3D CAD или для печати на 3D-принтере.

Режим работы, адаптированный для удобства инспектирования

  • 3-х шаговое сканирование

Простой алгоритм настройки работы прибора в три шага позволяет легко начать сканирование исследуемого объекта. После установки пользователь с минимальным уровнем знаний может практически сразу начать работу на системе. Прибор не требует проведения процедуры калибровки перед каждым началом работы.

  • Управление одним нажатием кнопки

В случае проведения исследования с многократным сканированием образцов одинаковой формы управление осуществляется нажатием всего одной кнопки, что значительно повышает производительность.

Оптимальные условия, включая отображаемое положение и контрастность во время наблюдений, записываются вместе с условиями сканирования. Это позволяет начать наблюдение сразу после сканирования без корректировки положения наблюдения или контрастности. Все операции, от начала сканирования до наблюдения результатов, можно выполнить одним нажатием кнопки, без каких-либо дополнительных операций с программным обеспечением.

  • Сканирование всего за 12 секунд и высокоскоростные расчеты реконструкции образца

Высокоскоростное сканирование длится всего 12 секунд. Кроме того, система оснащена той же системой реконструкции, что и модели высокого класса, поэтому данные КТ могут отображаться уже через 10 секунд после завершения сканирования. Это примерно вдвое быстрее, чем в других КТ моделях Shimadzu.

  • Обновленное программное обеспечение обеспечивает интуитивно понятное управление

Простой пользовательский интерфейс, устраняющий сложные шаги, обеспечивает интуитивно понятное управление, чтобы каждый мог легко использовать систему.

Специальные окна для сканирования и просмотра результатов сканирования позволяют пользователю легко переключаться между режимами съемки и обработки сканированных изображений.

  • Упрощенный подбор режима сканирования

Система оснащена функцией рекомендованного сканирования, которая может настроить все условия сканирования одним кликом мыши. Оптимальные условия сканирования можно легко установить, выбрав необходимую комбинацию типа материала и качества изображения.

Поддержка безопасности и защиты пользователей

  • Монитор статуса системы

Помимо отображения состояния прибора, включая положение предметного столика во время нормальной работы, монитор предоставляет подробную информацию о любых ошибках, возникающих во время аномальной работы, и месте, где возникает проблема, поэтому оператор немедленно получает уведомление о проблеме, которая может возникнуть в приборе.

Состояние системы постоянно контролируется: от предупреждений о том, что раздвижные дверцы не закрыты, например, до сигналов тревоги, указывающих на перегрев рентгеновского генератора и неисправности связи.

Технические характеристики

*1 SRD: Расстояние от источника до центра вращения (SRD) – это расстояние от источника рентгеновского излучения до центра вращения образца.