AIM-9000

Інфрачервоний мікроскоп

Автоматична система спостережень і досліджень мікрооб’єктів на базі ІЧ-мікроскопа AIM-9000 і ІЧ-Фур’є спектрометрів IRTracer-100 або IRAffinity-1S гарантує високочутливі і високошвидкісні вимірювання зразків різної природи. Такий комплект обладнання є незамінним інструментом криміналістичних досліджень, дослідження нових композитних матеріалів, пошуку та ідентифікації сторонніх включень в різноманітних пробах. Серцем приладу є високочутливий кріогенний МСТ детектор (вузько-або широкодіапазонний). На додаток до нього прилад може комплектуватися також TGS-детектором з термоконтролем, вибір і перемикання між ними проводиться автоматично. Саме така конфігурація забезпечує чутливість до ІЧ-випромінювання в широкому діапазоні, і дозволяє проводити дослідження зразків з різним ступенем поглинання ІЧ-випромінювання. Мікроскоп спроектований по оптичній схемі Кассегрена, дозволяє отримувати вузькофокусований ІЧ-промінь, що потрібно для високочутливого аналізу мікрооб’єктів і дозволяє проводити вимірювання різними методами, в тому числі: пропускання, відбиття, ППВВ, відображення під ковзаючим кутом та ін.

Різні комбінації об’єктивів і аксесуарів до них дозволяють максимально спростити процес підготовки аналізу, що крім усього іншого забезпечується конструкцією об’єктивів. Застосування поляризаторів інфрачервоного випромінювання забезпечує оцінку поляризаційних властивостей і просторової орієнтації макромолекул в плівках. Використання опційного датчика тиску ППВВ об’єктива на зразок не тільки дозволяє зберегти в безпеці ППВВ кристал, але і проводити вимірювання в однакових умовах притискання до зразка, що важливо для отримання високоякісних спектрів, і в подальшому, їх ідентифікації по бібліотеках. Оптична система на основі стандартного оптичного об’єктива дозволяє задавати 330х цифрове збільшення зони аналізу. Додаткова ширококутового камера з незалежним підсвічуванням з чотирьох сторін дозволяє розглянути об’єкт аналізу в найдрібніших подробицях. Об’єктив змінного падіння дозволяє найбільш ефективно досліджувати тонкі плівки і покриття.

Автоматична апертура дозволяє вибирати розміри в х-у напрямку з кроком 1 мкм і поворотом навколо вісі з кроком в 1 градус. Автоматичний предметний столик дозволяє розміщувати зразки вагою до 1 кг, при товщині зразка до 40 мм в режимах відображення і до 10 мм в режимі пропускання. Переміщення предметного столика в межах 70 мм (по вісі х) і 30 мм (по вісі у).
Інтуїтивне програмне забезпечення дозволяє автоматично вибрати область аналізу і задати відповідні апертури. У разі необхідності проведення картування розподілу різних компонентів по поверхні зразка, автоматично обрана зона картування завжди може бути відкорегована оператором в один клік мишки.

Широкий спектральний діапазон дослідження (5000-700 см-1 для вузькосмугового, 5000-650 см-1 для середнєсмугового і 4600-400 см-1 для TGS-детектора) достатній для однозначної ідентифікації різних з’єднань. Висока чутливість приладу гарантується співвідношенням сигнал/шум, величина якого залежить від типу детектора та ІЧ-Фур’є спектрометра. У разі використання комбінації IRTracer-100 та AIM-9000 (оснащений вузькосмуговим МСТ-детектором) досягається значення сигнал/шум 30000:1 (при 100 мкм апертурі, при вирішенні 8 см-1 і скануванні 2 хв).

AIM-9000